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電子芯片濕熱老化測(cè)試箱 環(huán)境溫變?cè)囼?yàn)箱廠(chǎng)
低溫試驗(yàn)箱可以用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
電子芯片濕熱老化測(cè)試箱 環(huán)境溫變?cè)囼?yàn)箱廠(chǎng)
二，高低溫試驗(yàn)箱廠(chǎng)家高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和尺寸（也可按客戶(hù)要求生產(chǎn)）（單位:mm）：
型號(hào) Y-HE-80G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400 外形尺寸：650×1500×950
型號(hào) Y-HE-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸：750×1600×1050
型號(hào) Y-HE-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸：1000×1650×1200
型號(hào) Y-HE-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸：1100×1750×1400